01.技術清潔度的新要求

技術清潔度（Technical Cleanliness，TC）是汽車及精密制造領域的重要質量控制指標，直接影響零部件的磨損程度、使用壽命、失效風險，以及整機設備的可靠性、穩定性和停機率。

隨著汽車電動化、智能化以及裝備制造對精密性的要求不斷提升，微小顆粒污染對關鍵部件性能的影響愈發顯著。技術清潔度已不再只是生產過程中的質量檢測項目，更成為貫穿零部件研發、制造、質量控制與失效分析全流程的重要環節。

嚴格控制技術清潔度，是保障產品性能一致性、延長設備壽命、降低故障率的關鍵，也是滿足行業標準與客戶質量要求的核心基礎。

新版 VDA19.1（2026）對掃描電鏡/能譜（SEM/EDX）檢測方法進行了詳細的描述。

02.Phenom XL - 光鏡聯用方案

長期以來，技術清潔度檢測主要依賴光學顯微鏡方案。通過偏振光成像，光鏡能夠實現顆粒的初步檢測與金屬/非金屬顆粒區分，滿足基礎清潔度檢測需求。

然而，隨著質量管控要求的提升，傳統光鏡方案的局限性也日益明顯——雖然能夠“看到顆粒"，卻無法進一步識別顆粒的具體化學成分。這意味著，當檢測到污染物時，用戶難以準確判斷顆粒來源，從而給污染溯源、工藝優化與質量改進帶來挑戰。

針對這一痛點，復納科技推出 Phenom XL - 光鏡聯用解決方案。

該方案在保留光鏡高效顆粒篩查能力的基礎上，實現與 Phenom XL 大倉室全自動掃描電鏡的無縫聯動：首先通過光鏡完成顆粒檢測與目標篩選，再將關注顆粒的坐標精準轉換至 Phenom XL 平臺，對目標顆粒進行 EDS 能譜成分分析，快速獲取顆粒的元素組成信息。

這一聯用方案實現了從“顆粒檢測"到“成分確認"的完整閉環，不僅提升了技術清潔度分析深度，也為污染源追蹤與工藝優化提供更有力的數據支持。

針對更高效率、更高自動化水平的技術清潔度檢測需求，飛納電鏡推出 Particle AC 全自動汽車清潔度檢測方案。

該方案基于 Phenom XL 大倉室全自動掃描電鏡，結合全自動清潔度分析軟件，實現濾膜樣品上異物顆粒的全自動掃描、識別、分類與成分分析，為汽車行業提供高效、標準化的清潔度檢測解決方案。

這一技術路線源于行業成熟的自動顆粒分析體系。早在 ASPEX 時代，掃描電鏡與能譜聯用技術便突破了傳統顆粒檢測在效率與成分分析方面的限制；發展至 Explorer4 平臺，自動化顆粒識別能力進一步提升；而如今的 Particle AC，則將自動檢測能力推向更高水平。

Particle AC 全自動汽車清潔度檢測系統可自動完成顆粒檢測、尺寸測量、形貌識別、元素成分分析及分類統計，幫助工程師快速識別微米級污染顆粒，精準判斷顆粒來源，顯著提升污染分析效率。

目前，該方案已被奔馳、寶馬、博澤、三電、三花等國內外企業廣泛應用，為汽車零部件清潔度質量控制提供可靠保障。

汽車行業部分用戶

Particle AC 汽車清潔度檢測系統可以表征顆粒的形態及化學成分，并對硬質顆粒進行準確識別并詳細分類，支持一鍵導出數據報告。除此之外還可與光鏡清潔度檢測結合實現 Phenom XL-光鏡聯用方案。

該過程符合 ISO16232 和 VDA19 要求。只需一鍵，即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，無需人員值守，可連續運行，并且一鍵生成報告，更有效率地監控清潔度。