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Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于第三方檢測中的多類樣品形貌觀察和元素分析。

Phenom ProX G7 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X，分辨率優(yōu)于 6 nm，采用 CeB6 燈絲，并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區(qū)元素分析和材料研發(fā)檢測。

該產(chǎn)品適合高校實(shí)驗(yàn)室、企業(yè)研發(fā)中心、第三方檢測機(jī)構(gòu)及工業(yè)質(zhì)檢場景。具體配置和價(jià)格根據(jù)樣品類型、探測器配置、能譜分析需求及服務(wù)方案確定，可通過平臺(tái)詢價(jià)/留言入口獲取選型建議，并預(yù)約試樣。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 臺(tái)式掃描電鏡與能譜分析能力結(jié)合。

2. 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X。

3. 分辨率優(yōu)于 6 nm，適合常規(guī)材料微觀形貌觀察。

4. CeB6 燈絲壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)。

5. 支持高/低真空模式。

6. 標(biāo)配背散射探測器和能譜探測器，可選配二次電子探測器。

7. 適合顆粒、異物、缺陷區(qū)域和材料微區(qū)成分分析。

8. 支持選型咨詢，可預(yù)約試樣。